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手机结构可靠性测试的跌落测试的方法有什么

  一般来说,可靠性测试可分为加速寿命试验、结构耐久性试验、气候适应性试验、表面装饰试验和特殊条件试验。较常见的结构问题包括落锤测试、反复下落、车轮等。  首先第1个是跌落测试,它的测试环境是要求室温在20-25℃,跌落测试的测试目的是是让高低温冲击暴露样品缺陷,测试设备有跌落测试仪。测试的项目包含了电气性能参数测试被检体。测试中还包括对手机的功能测试:其中包括的功能测试有通话、显示屏、铃声、震动、回声、照明、拍照、充电、蓝牙、按键、听筒、听筒、迷你SD卡等。以及需要测试手机的结构测:包括手机的外壳附件、结构附件、天线、镜头、显示器、附件和其他未说明的结构。4)外观测试:喷涂、印刷、电镀以及其他的结构。较后一个就是手机的内存时钟:在原型内存包含5个电话和5条信息,设置手机上的始终为当前日期和时间。

  手机跌落的测试方法:将试验的手机保持为插卡的状态,在1.5米长的手机的6个面上进行自由落体实验,每面下落2次,每面检测手机的形状、结构、内存、时间和功能。试验手机的坠落顺序为直销和翻转手机(左、后、右、下、上、前。在下落过程中,对于翻盖手机,一半样品将打开到使用位置,一半样品将关闭到初始状态。样品数量为奇数时,打开盖子或滑动其他样品的滑盖。跌落测试的试验条件要求高度为1.5米高,20毫米厚大理石落地。测试的标准定为手机外观、结构、功能、记忆时间都正常说明设备正常。

  较终跌落测试的功能检查标准样机可以正常电话、显示屏、振动、LED、扬声器、听筒、回声、按键、拍照、正常充电等未说明的功能都是正常的。它的盖子不会出现脱落、钩子脱落、断裂、旋转轴不能有松动、偏移、脱落和破损等现象出现。