可测元素范围：常规测试范围11Na-92U，部分仪器可以测到O元素，如果需要测到O需要备注好。

　　制样方法：压片、融片

　　结果模式：单质、氧化物

　　一般是半定量测试，可测试的深度是毫米级，可作为一种快速的无损分析。

　　结果展示

　　测试结果给出的是txt格式或者word版测试结果。如下图分别为单质和氧化物模式的测试结果。

　　样品要求

　　1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品

　　2. 粉末样品：粉末样品需要至少2 g ，好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，200目以下;含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试。

　　3. 块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面(表面光滑平整)

　　稳态/瞬态荧光光谱检测

　　项目简介

　　FLS系列注于稳态及时间分辨光谱测试，具有超高的灵敏度。通过搭配适宜的组件和附件，可以满足荧光、量子产率、磷光、近红外、荧光寿命等一系列测试需求。根据测试需要，可设置不同的光源和不同的测试模式，表1列举了不同测试模式对应的数据采集技术：

　　除了仪器，滨松的设备也常用来测试材料的荧光量子产率。滨松的*量子产率测试系统，测试波段覆盖从紫外到近红外短波区域。相比PMT探测器，滨松产率设备配置的CCD探测器主要特点是多通道性，可读出一段光谱区域内的连续光谱，实现“全谱测定”，测试响应速度更快，特定波长范围下的相对检测噪音也低。

　　此外，日立FL系列荧光光度计、HORIBA的荧光光谱仪、FS5等等。不同光谱仪的组成复杂程度不同，但它们的基本结构是相似的：光源照射样品，样品发出荧光，探测器接收信号，光电流经处理得到相应数值。